PT Journal
AU SIPAL, J
TI ANALYZA JEDNE Z PRICIN SPATNYCH ZNALOSTI
SO Journal of Technology and Information Education
PY 2013
BP 44
EP 47
VL 5
IS 3
DI 10.5507/jtie.2013.033
DE testy; PISA; OECD
AB Prispevek uvadi nazor na hodnoceni znalosti zaku a studentu zpusobem testovani. Autor dokazuje, ze vyber jedne spravne odpovedi ze ctyr nabidnutych odpovedi umozni vzdy urcitemu poctu studentu projit uspesne testy, aniz by se cokoliv naucili. Autor se domniva, ze je potreba omezit prezkusovani pomoci testu. Nejvetsi pozornost je treba venovat praktickemu pocitani prikladu, rozborum uloh a hledani logickeho postupu reseni. Autor by rad vyvolal otevrenou diskuzi na toto tema.
ER